Vytištěno ze stránky https://www.bas.cz/ed-xrf-spektrometr/nex-de-series/index.php

Spektrometr Rigaku NEX DE Series – Přímé buzení (Direct Excitation) ED-XRF

Výkonný stolní spektrometr - nedestruktivní ED-XRF řešení pro kvalitativní i kvantitativní prvkovou analýzu. Vysoké počty impulsů, špičková přesnost a excelentní opakovatelnost i u náročných materiálů.

  • Výkonná rentgenka – 60 kV, 12 W
  • Jednovrstvé i vícevrstvé filtry pro optimalizaci buzení
  • Vysoce výkonný SDD detektor – přes 500 000 cps a výborné spektrální rozlišení
  • Vysoký count rate = nízké LOD
  • Rychlé měření díky automatickým výměníkem vzorků

Dostupné modely: NEX DE a NEX DE VS (variable spot).



Potřebujete více informací o produktu?

  • zjistit cenu
  • +420 541 126 090

další produkty v kategorii stolní ED-XRF spektrometry

Rigaku NEX série DE – RFA rentgenové spektrometry pro prvkovou analýzu

Rigaku NEX DE Series jsou high-performance spektrometry s přímým buzením (Direct Excitation), které poskytují vyšší count rate, lepší poměr signál/šum a vynikající přesnost i při krátkých měřicích časech. Jsou určeny pro spolehlivou analýzu od rutinní kontroly kvality až po specializované úlohy včetně fokusace (u modelu NEX DE VS).

Proč zvolit přímé buzení (Direct Excitation)?

  • Maximální intenzita excitace = vyšší citlivost a kratší časy měření
  • Výborná přesnost a opakovatelnost pro QA/QC i R&D
  • Univerzálnost pro pevné látky, kapaliny, prášky, povlaky a tenké vrstvy
  • Snadná obsluha, rychlá validace metod, nižší náklady na rutinu

NEX DE

Univerzální EDXRF spektrometr s přímým buzením pro rychlou prvkovou analýzu v laboratoři i provozu. Vhodný pro rutinní QA/QC, přípravu receptur, příjem materiálu a ověřování shody s normami.

  • Vysoký výkon rentgenky = vyšší count rate a nižší LOD
  • Stabilita a robustnost pro vícesměnný provoz
  • Snadná tvorba metod v QuantEZ

NEX DE VS (Variable Spot)

Varianta VS přidává fokus pro cílené měření malých ploch, inkluzí, pájených spojů, povlaků nebo vícefázových materiálů.

  • Small-spot analýza pro přesné zacílení (fokusace)
  • Ideální pro elektroniku, kovy, povlaky, 3D tisk

Pro potřeby small spot EDXRF měření nabízí model NEX DE VS vysoké rozlišení kamery a automatické kolimátory pro přesné polohování vzorků a analýzu stop o průměru 1 mm, 3 mm a 10 mm.

  • Velká komora – pojme vzorky do 30 cm a výšky 10 cm.
  • Point Analysis rozhraní a integrovaná podsvětlená kamera pro snadné a jisté umístění měřicího bodu.

NEX DE VS je výbornou volbou pro měření povlaků na malých dílech, screening drobných vzorků v rámci iniciativ pro elektroodpad a pro šetření cizorodých částic neznámého složení.

  • Maximální přesnost v nejkratším možném čase
  • QuantEZ software – jednoduché ovládání, EZ Analysis, wizard pro tvorbu metod
  • Optimalizováno pro výzkum, průmyslovou kontrolu a vzdělávání
  • Podpora RoHS a environmentálních screeningů
  • Vhodné i pro forenzní analýzu a výrobní monitoring

Kombinace výkonné hardwarové architektury, vysoké citlivosti a flexibilního softwaru činí z řady NEX DE ideální řešení pro laboratoře, které potřebují rychlé, spolehlivé a přesné výsledky.

podrobný popis - ED-XRF spektrometrů Rigaku série NEX DE a NEX DE VS

Aplikační zprávy a využití série Rigaku NEX DE a NEX DE VS

Rigaku NEX DE Series jsou univerzální RFA (EDXRF) spektrometry, které nacházejí uplatnění ve výzkumu, kontrole kvality a laboratorní analytice napříč průmyslovými odvětvími. Níže naleznete vybrané aplikační zprávy, které Vám rádi na vyžádání zašleme:
Číslo app. zprávy Název / Popis aplikace Norma / Standard
EDXRF3186Nutrient Premixes – obohacování mletých obilovin-
EDXRF3074Mez detekce pro vzduchové filtry (NEX DE)-
EDXRF1803RoHS PE-Pak – rychlý screening plastů (NEX DE VS)RoHS
EDXRF1844RoHS Metals-Pak – rychlý screening kovů (NEX DE VS)RoHS
EDXRF1807RoHS Lead-Free Solder-Pak – screening pájek bez olova (NEX DE VS)RoHS
EDXRF1933Katalyzátory a těžké kovy ve farmaceutických procesech-
EDXRF1923Organické chloridy v ropěASTM D4929 Part C
EDXRF1915Filtry chladicí vody – jaderná energetika-
EDXRF1693Ni:Fe metalurgie-
Číslo app. zprávy Název / Popis aplikace Norma / Standard
EDXRF1994Identifikace materiálů-
EDXRF2000Průmyslová forenzní analýza (NEX DE VS)-
EDXRF1549Kovy v aerosolech na vzduchových filtrech-
EDXRF1602RoHS PE – empirická metoda (NEX DE VS)RoHS
EDXRF1846Analýza sazí (Carbon Black)-
EDXRF1576Získávání zlata – analýzy-
EDXRF1978Práškové slitiny pro 3D tisk-
EDXRF1856Přísady v mazacích olejíchASTM D7751
EDXRF1748Portlandský cement – hotový výrobek-
EDXRF1537Zpracování zlata – analýza rud-
EDXRF1658Analýza ULSD (Ultra Low Sulfur Diesel)-
EDXRF1575Analýza Ag a Cu v rudách-
EDXRF1521S, Ca, V, Fe, Ni v ropě-
EDXRF1720Bezproudé niklování – povlaky-
EDXRF1550Pájky bez olova (NEX DE VS)-

 

Fotogalerie - spektrometr NEX DE a NEX DE VS

Video:

 

Technické specifikace série NEX DE a NEX DE VS

Rozměry 35.6 (šířka) x 35.1 (hloubka) x 26 (výška) cm
Hmotnost cca 27 kg
Princip ED-XRF (Energiově disperzní rentgenová fluorescence) s přímou excitací
Detektor SDD detektor
Zdroj RTG Dosažitelné napětí 60 kV, výkon 12 W
Rozsah prvků Od sodíku (včetně) po uran (včetně) : Na - U
Volitelné Vakuum (model NEX DE), proplachování heliem, automatické výměníky vzorků, rotační výměník vzorků s jednou polohou, externí počítač s operačním systémem Microsoft Windows, UPS, fundamentální parametry RPF-SQX s rozptylovým FP Rigaku, podpora SureDI pro shodu s 21 CFR Part 11, další softwarové funkce
Napájení: Jedna fáze 100-240 V, jištění 16A (50/60 Hz)
Další možnosti: U modelu NEX DE VS jsou k dispozici kolimátory 1mm, 3 mm a 10mm, jejich výměna pomocí SW + kamera pro přesné zaměřování vzorků
Záruka 2 roky

 

Klíčové vlastnosti Rigaku NEX DE a NEX DE VS

  • Rychlá a nedestruktivní prvková analýza od ppm úrovní po procenta
  • Měření všech prvků od sodíku (Na) po uran (U)
  • Všestrannost – pevné vzorky, kapaliny, slitiny, prášky i tenké vrstvy
  • 60 kV rentgenová trubice pro široké pokrytí prvků
  • SDD detektor vysokého výkonu pro přesná a rychlá data
  • Fokusace 1 mm, 3 mm a 10 mm (model NEX DE VS)
  • QuantEZ software s vícejazyčným rozhraním a intuitivní obsluhou
  • Více automatických filtrů pro vyšší citlivost měření
  • RPF-SQX Fundamental Parameters s metodou Rigaku Scattering FP
  • Nižší celkové náklady, možnost vlastní instalace s online podporou nebo místní se specialistou
  • Podrobné specifikace dostupné na vyžádání

Pro informace o ceně volejte +420 606 424 759

Klíčová slova pro vyhledávače: Rigaku, XRF
Máte zájem? Najdeme nejvýhodnější řešení přímo pro vás
Zjistit cenu
Vytištěno ze stránky https://www.bas.cz/ed-xrf-spektrometr/nex-de-series/index.php