Vytištěno ze stránky https://www.bas.cz/faq.php
FAQ - Frequently Asked Questions

Sigma - směrodatná odchylka

Statistická veličina σ udávající rozptyl měřených výsledků. Interval 3 * sigma odpovídá pravděpodobnosti 99.7% (a současně přibližně rozdílu max-min skupiny hodnot). Řada spektrometrů přímo u měřeného výsledku vyjadřuje sigmu nebo násobky sigmy (dle nastavení) což uživateli umožňuje rychle vyhodnotit rozptyl měření ve vztahu k měřené veličině.

Často používané jednotky (význam zkratky/zkratek ppm, ppb, ppt)

ppt (parts per trilion) rovněž také desetimiliardtina procenta, příklad:
1 ppt = 0,001 ppb = 0,0000000001%
10 ppt = 0,01 ppb = 0,000000001%
100 ppt = 0,1 ppb = 0,00000001%
1000 ppt = 1 ppb = 0,0000001%

ppb (parts per billion) rovněž také desetimilióntina procenta, příklad:
1 ppb = 0,001 ppm = 0,0000001%
10 ppb = 0,01 ppm = 0,000001%
100 ppb = 0,1 ppm = 0,00001%
1000 ppb = 1 ppm = 0,0001%

ppm (parts per milion) rovněž také desetitisícina procenta, příklad:
1 ppm = 0,0001%
10 ppm = 0,001%
100 ppm = 0,01%
1000 ppm = 0,1%

1 mg/kg = 1 ppm
0,1% = 1 gram / kilogram

Význam zkratek

  • OES - optická emisní spektrometrie
  • ED-XRF - z anglického "Energy Dispersive X-ray Fluorescence" = energiově disperzní rentgenová fluorescence. Princip ED-XRF
  • Arc/Spark - oblouk/jiskra - používá se v OES při označování buzení zdroje jiskření
  • LE - Lehké prvky - z anglického "Light Elements - LE" - za lehké prvky jsou u RTG přístrojů označovány prvky s atomovým číslem menší než 22, typicky do této skupiny spadají prvky Mg, Al, Si, P, S, případně pak další jako Cl, Ca, K, ...
  • ICP - z anglického "Inductively coupled plasma" = indukčně vázaná plazma, typicky ve vysokofrekvenčním poli (moderní systémy 40,68MHz) o vysokém výkonu (až 2kW)
  • SDD - z anglického "Silicon Drift Detector" = nová generace elektricky chlazených detektorů s vysokou citlivostí včetně lehkých prvků, u ručních přístrojů typicky SDD umožňuje analýzy v rozsahu Mg-U, u stolních a laboratorních pak od F-U či dokonce C-U.
  • SiPIN - z anglického "Silicon PIN" = robustní detektory používané tam, kde není požadavek na analýzu lehkých prvků.
  • Graphene (grafen) - grafen je supertenká forma uhlíku. U nejnovějších typů detektorů pro ED-XRF se používá namísto Berylia či polymerních okének. Výhoda je vyšší propustnost pro prvky s nižšími atomovými čísly a vyšší pevnost.
Máte zájem? Najdeme nejvýhodnější řešení přímo pro vás
Zjistit cenu
Vytištěno ze stránky https://www.bas.cz/faq.php