Vytištěno ze stránky https://www.bas.cz/mereni-tloustky-vrstev-a-galvanickych-povlaku/bowman/k-series/index.php

Bowman K Series – XRF přístroj pro měření tloušťky galvanických povlaků a vrstev

Důvěryhodná technologie, výkon nové generace

Bowman K Series je laboratorní XRF měřicí systém pro přesné, nedestruktivní měření tloušťky galvanických povlaků, vícevrstvých systémů a prvkového složení materiálů. Díky velké měřicí ploše, programovatelnému XY stolu, automatickému zaostření a SDD detektoru je vhodný pro kontrolu pokovení v galvanovnách, elektrotechnice, výrobě PCB, konektorů, kovových dílů a přesných technických součástí.

Řada K byla vyvinuta pro oddělení kvality, která pracují se širokou škálou vzorků. Kolimovaný systém má špičkovou měřitelnou plochu 305 mm x 305 mm na dílech o výšce až 222 mm. Automatický multikolimátor umožňuje volitelné velikosti bodů pro přizpůsobení se různým velikostem prvků; variabilní kamera umožňuje měření s ohniskovými vzdálenostmi od 6,35 mm až 89 mm.

Programovatelný stolek poháněný servomotorem umožňuje rychlé a přesné programovatelné polohování vzorku. Konzolová konstrukce dvířek poskytuje obsluze snadný přístup k umístění vzorku. Dostupná funkce zobrazení stolu zobrazuje celou měřitelnou oblast a umožňuje obsluze navigovat na libovolné místo jediným kliknutím. Volitelný vestavěný joystick umožňuje obsluze pohybovat stolkem XY z ovládacího panelu systému bez zásahu softwaru.

Standardní kolimovaná konfigurace řady K zahrnuje 4 polohový (0,1, 0,2, 0,3 a 0,6 mm) multikolimátor; volitelné velikosti jsou 0,05 x 0,05 mm až 1,5 mm. Variabilní zaostřování usnadňuje měření v zapuštěných oblastech. Programovatelný stolek umožňuje měření dílů s volitelnými programy XYZ až do přesnosti 10,2 µm. Programy mohou využívat porovnávání vzorů a automatické zaostřování pro zajištění přesných měření. Stejně jako všechny systémy Bowman XRF je i řada K vybavena standardním křemíkovým driftovým detektorem (SDD) a dlouhodobou mikrofokusovou rentgenkou.



Potřebujete více informací o produktu?

  • zjistit cenu
  • +420 541 126 090

další produkty v kategorii stolní ED-XRF spektrometry

XRF řady K je nejvhodnější pro zákazníky s těmito požadavky:

  • Zaručeně splňuje normy IPC-4552, 4553, 4554 a 4556
  • Ergonomická dokonalost: snadný přístup, programovatelný stolek, flexibilní pojezd
  • Splňuje normy ASTM B568 a ISO 3497
  • Kolimovaný systém splňuje normu RoHS
podrobný popis - Bowman K Series RFA analyzátor pro měření tloušťky vrstev

Technické specifikace Bowman K-Series : rentgenový spektrometr

Prvkový rozsah Hliník (Al) - Uran (U)
Počet vrstev a prvků 5 vrstev (4 vrstvy + základ) a 10 prvků v každé vrstvě. Analýza složení až 30 prvků současně
Filtry/kolimátory Kolimované: 4 primární filtry / 4 motorizované kolimátory
Zpracování signálu Digitální zpracování pulzů: 4096kanálový digitální vícekanálový analyzátor s flexibilním tvarováním času. Automatické zpracování signálu včetně korekce mrtvého času a korekce escape píků
Kamera 1/3" CMOS - rozlišení 2688 × 1520 + k dispozici volitelně Table View - klikatelný náhled na celý měřící stůl
Programovatelný XYZ stolek Velikost stolu: 305 mm x 305 mm
Posuv XY: 305 mm x 305 mm
Kolimovaný: Přesnost stolu: 10,2 um (400 uin)
Rozměry 711 (šířka) x 668 (výška) x 922 (hloubka) mm
Vnitřní rozměry 610 (šířka) x 229 (výška) x 610 (hloubka) mm
Hmotnost 120 kg
Technologie ED-XRF (Energiově disperzní rentgenová fluorescence) s přímou excitací - přímým buzením.
Detektor SDD detektor s rozlišením lepším než 190eV
Zdroj RTG 50 W (50kV a 1 mA) mikro fokusovaná rentgenka s W anodou (na přání Cr, Mo, Rh nebo jiné anody)
Počítač Externí PC
Napájení: Jedna fáze 100-240 V, (50/60 Hz), 480 W
Aplikace: měření tloušťky povlaků, měření tloušťky galvanických vrstev, XRF tloušťkoměr, X ray analyzátor tlouštěk, XRF analyzátor povlaků, nedestruktivní měření vrstev, měření pokovení, kontrola galvanického pokovení, měření vrstev na PCB, měření Ni/Au, měření Zn povlaku, ZnNi, měření cínování, měření chromování, měření niklování, pasivace na bázi trojmocného chromu Cr3+.

 

FAQ sekce

Co měří Bowman K Series?

Bowman K Series měří tloušťku kovových a galvanických povlaků a zároveň umožňuje prvkovou analýzu materiálu metodou XRF. Je vhodný pro kontrolu povrchových úprav, vícevrstvých systémů i základního materiálu v galvanice, elektronice, strojírenství a dalších průmyslových aplikacích.

Je měření XRF nedestruktivní?

Ano, XRF měření je nedestruktivní metoda. Vzorek není nutné řezat, leptat ani jinak mechanicky upravovat. Díky tomu je metoda vhodná pro vstupní kontrolu, výstupní kontrolu, laboratorní měření i opakované měření hotových výrobků.

Pro jaké povlaky je Bowman K Series vhodný?

Bowman K Series je vhodný typicky pro vrstvy niklu, zlata, stříbra, mědi, chromu, zinku, cínu a další kovové povlaky používané v galvanice, elektronice a strojírenství. Lze jej využít také pro měření vícevrstvých systémů, například kombinací Cu/Ni/Cr, Ni/Au, Zn/Ni, Sn nebo Ag. Kontaktujte nás s Vašimi požadavky – rádi Vám poradíme, který model přístroje je pro Vaši aplikaci nejvhodnější.

Jaký je rozdíl mezi Bowman K Series a menšími modely?

Bowman K Series je vhodný zejména pro širší spektrum vzorků a větší díly. Oproti menším modelům nabízí větší pracovní prostor, komfortnější manipulaci se vzorky a možnost měření rozměrnějších nebo tvarově složitějších součástí. Oficiální materiály uvádějí měřitelnou oblast přibližně 305 × 305 mm a vnitřní komoru přibližně 610 × 610 × 229 mm. Díky tomu je K Series vhodná nejen pro malé vzorky, ale také pro větší komponenty, panely, sestavy nebo díly s více měřicími pozicemi.

Je Bowman K Series vhodný pro měření vícevrstvých povlaků?

Ano, Bowman K Series je vhodný pro měření vícevrstvých kovových povlaků. Typicky lze vyhodnocovat například systémy měď–nikl–chrom, nikl–zlato, zinek–nikl, cínované vrstvy nebo jiné kombinace používané v galvanické výrobě a technických povrchových úpravách. Konkrétní měřitelnost vždy závisí na složení vrstev, jejich tloušťce, základním materiálu a požadované přesnosti měření.

Lze přístroj použít pro měření povlaků na PCB a konektorech?

Ano, Bowman K Series lze využít také pro kontrolu povlaků v elektronice, například na deskách plošných spojů, kontaktech, konektorech, pájecích plochách nebo přesných elektrotechnických součástkách. V těchto aplikacích se často měří vrstvy niklu, zlata, stříbra, mědi nebo cínu.

Je možné měřit více bodů na jednom vzorku automaticky?

Ano. Při použití motorizovaného stolku a softwaru Archer lze vytvořit měřicí úlohu s předem definovanými měřicími body. Software může řídit pořadí měření, počet opakování i vyhodnocení výsledků. To je výhodné zejména u opakované kontroly sériových dílů, větších vzorků nebo součástí s více kritickými měřicími místy.

Jaké jsou hlavní výhody XRF měření tloušťky povlaků?

Hlavní výhodou je nedestruktivní měření bez poškození vzorku, rychlé vyhodnocení výsledku, možnost měření více vrstev a současná informace o prvkovém složení materiálu. XRF metoda je proto vhodná pro kontrolu kvality, výrobní kontrolu, laboratorní analýzy i dokladování shody povrchových úprav.

Pro jaké provozy je Bowman K Series vhodný?

Bowman K Series je vhodný pro galvanovny, výrobce elektroniky, výrobce konektorů, strojírenské firmy, laboratoře kontroly kvality, dodavatele povrchových úprav i podniky, které potřebují pravidelně kontrolovat tloušťku pokovení nebo chemické složení povrchových vrstev.

Pomůžete nám vybrat správný model Bowman?

Ano. Výběr vhodného modelu závisí na velikosti vzorků, typu povlaků, požadované přesnosti, počtu měřicích bodů, potřebě automatizace a charakteru provozu. Kontaktujte nás s popisem Vašich vzorků a požadavků na měření – doporučíme vhodnou konfiguraci přístroje i softwaru. Můžeme se rovněž dohodnout na praktické ukázce a proměření Vašich vzorků.

Normy

Přístroj Bowman K-Series je vhodný i pro měření podle metodik ASTM B568, ISO 3497 a pro aplikace související s IPC-4552 v oblasti povrchových úprav a elektroniky.

Software

Moderní software Archer poskytuje uživateli kompletní pracovní prostředí pro rutinní měření tloušťky povlaků, vývoj nových měřicích metod, tvorbu kalibrací i automatizaci opakovaných kontrolních postupů. Je navržen tak, aby obsluha mohla rychle a spolehlivě provádět každodenní analýzy, ale zároveň měla k dispozici dostatečně výkonné nástroje pro složitější měřicí úlohy, vícevrstvé systémy a specifické zákaznické aplikace.

Software umožňuje jednoduché nastavení měřicích metod pro konkrétní materiálové kombinace, definici vrstev, výběr měřicích parametrů, správu kalibračních standardů a vyhodnocení výsledků podle požadovaného kontrolního postupu. Díky přehlednému uživatelskému rozhraní je vhodný jak pro zkušené pracovníky laboratoří a kontroly kvality, tak pro rutinní obsluhu ve výrobě.

Významnou výhodou softwaru Archer je možnost vytvářet měřicí úlohy pro komplexní vzorky s předem definovanými měřicími body. Uživatel může připravit kontrolní program, ve kterém jsou určeny jednotlivé pozice měření, pořadí náměrů, počet opakování a způsob vyhodnocení. To je zásadní zejména při kontrole galvanických povlaků, konektorů, desek plošných spojů, přesných technických dílů nebo jiných výrobků, kde je požadována vysoká opakovatelnost a jednoznačný pracovní postup.

Při použití motorizovaného stolku lze měřicí proces dále automatizovat. Software umožňuje přesné najíždění na definované body, opakované měření stejných pozic a efektivní kontrolu sériových nebo tvarově složitějších dílů. Tím se snižuje vliv obsluhy na výsledek, zvyšuje se reprodukovatelnost měření a zrychluje se celý proces výstupní nebo vstupní kontroly.

Součástí softwaru jsou nástroje pro správu výsledků, tvorbu protokolů a dokumentaci měření. Výsledky lze přehledně zobrazovat, archivovat a využívat pro sledování kvality výroby, dokladování shody nebo komunikaci se zákazníkem. Archer tak nepředstavuje pouze ovládací software k přístroji, ale komplexní platformu pro řízení XRF měření v oblasti galvanických povlaků, povrchových úprav a materiálové kontroly.

Výhody řešení Bowman K Series

Bowman K Series představuje moderní XRF řešení pro měření tloušťky povlaků, které kombinuje přesné analytické možnosti, komfortní pracovní prostor a přehledné softwarové ovládání. Díky tomu je vhodný nejen pro rutinní kontrolu galvanických povlaků, ale také pro náročnější měření vícevrstvých systémů, větších dílů a zákaznických aplikací.

  • Flexibilní software pro různé typy měření – Archer umožňuje rutinní analýzy, tvorbu nových aplikací, správu kalibrací i automatizaci měřicích postupů.
  • Automatizace měření více bodů – uživatel může připravit měřicí program s definovanými pozicemi, pořadím náměrů a opakováním měření.
  • Vyšší opakovatelnost výsledků – automatizované postupy snižují vliv obsluhy a pomáhají zajistit konzistentní měření v běžné kontrole kvality.
  • Velký pracovní prostor – přístroj je vhodný i pro větší, členité nebo obtížněji polohovatelné vzorky.
  • Vhodný pro vícevrstvé povlaky – využití v galvanice, elektronice, výrobě PCB, konektorů a přesných technických součástí.
  • Přehledné ovládání bez zbytečné složitosti – vhodné pro rutinní obsluhu ve výrobě i pro zkušené pracovníky laboratoří.
  • Dobrá přizpůsobitelnost zákaznickým aplikacím – měřicí metody lze nastavit podle konkrétních povlaků, materiálů a požadavků zákazníka.
  • Plně přizpůsobitelné reporty – reporty z měření a výstup dat lze zcela přizpůsobit potřebám zákazníka.

Pro informace o ceně volejte +420 606 424 759

Klíčová slova pro vyhledávače: Rigaku, XRF
Máte zájem? Najdeme nejvýhodnější řešení přímo pro vás
Zjistit cenu
Vytištěno ze stránky https://www.bas.cz/mereni-tloustky-vrstev-a-galvanickych-povlaku/bowman/k-series/index.php