Vytištěno ze stránky https://www.bas.cz/mereni-tloustky-vrstev-a-galvanickych-povlaku/bowman/l-series/index.php
BOWMAN XRF / L SERIESNedestruktivní kontrola povrchových úprav

Stolní xray spektrometr s velkou komorou

Bowman L Series – XRF měření tloušťky galvanických povlaků na velkých dílech

XRF spektrometr s velkou měřicí komorou a programovatelným XY stolkem pro kontrolu galvanických povlaků na rozměrných a tvarově složitých součástech.

Bowman L Series je stolní rentgenfluorescenční (ED-XRF) analyzátor pro nedestruktivní měření tloušťky galvanických povlaků, vícevrstvých systémů a prvkového složení. Využívá se v galvanovnách, průmyslové kontrole kvality, strojírenství, automobilovém průmyslu i při kontrole povrchových úprav elektrotechnických součástí.

Jeho hlavní předností je uzavřená komora s vnitřními rozměry 559 × 610 × 254 mm se standardním programovatelným XY stolkem s pojezdem 254 × 254 mm. Lze tak umístit větší díl nebo měřicí přípravek s několika součástmi a opakovaně kontrolovat více bodů.

Součástí standardní konfigurace je SDD detektor, mikrofokusová rentgenka, motorizovaný čtyřpolohový multikolimátor a proměnná zaostřovací vzdálenost. Po vyjmutí stolku je možné využít výšku komory až 330 mm – konkrétní dostupnost měřicích bodů se však posuzuje samostatně.

SDD 140 eV nebo lepší50 W RTG zdroj4 kolimátoryAl–U

Technické parametry Časté otázky Srovnání řešení

BOWMAN L SERIES

Bowman L Series · stránka výrobce

Potřebujete více informací o přístroji?

Další XRF pro měření povlaků

Proč právě L-Series

XRF tloušťkoměr pro rozměrné díly a více měřicích bodů

01

Velká uzavřená komora

Pro rozměrnější pokovené součásti, přípravky a opakovanou kontrolu různých typů dílů.

02

Programovatelný XYZ stolek

Pojezd 254 × 254 mm pro více měřicích míst a opakovatelné kontrolní programy.

03

SDD + mikrofokus

Standardní detektor s rozlišením 140 eV nebo lepším a 50W zdroj pro analýzu povlaků.

04

Vícevrstvé povlaky

Až čtyři povlakové vrstvy a substrát; konkrétní měřitelnost se ověřuje na aplikaci.

Průmyslové aplikace

Měření tloušťky pokovení v galvanice, automotive i výrobě součástek

L-Series je určena pro výrobní a laboratorní kontrolu tam, kde je potřeba spojit velkou komoru s opakovatelnou XRF analýzou povrchových úprav. Typické úlohy zahrnují:

  • Zinek a zinkové slitiny: Zn/Fe, ZnNi/Fe, ZnFe/Fe; kontrola tloušťky a v případě vhodné metody i složení.
  • Dekorativní pokovení: Cr/Ni/Cu/ABS, Cu/Ni/Cr, niklování, chromování a vícevrstvé galvanické systémy.
  • Bezproudý nikl: Ni-P na oceli, mědi či hliníku; dle kombinace lze řešit tloušťku a obsah fosforu.
  • Elektronika a kontakty: Au/Ni, Sn/Cu, Ni/Pd/Au, ENIG a ENEPIG – podle velikosti měřicího místa a požadované metodiky.
  • Větší technické díly: armatury, automobilové komponenty, kovové přípravky a série dílů upnutá ve společném držáku.

U složitých nebo velmi tenkých vrstev je pro dosažení požadované nejistoty vždy nutné ověřit vhodnost měřicí geometrie, kalibrace a měřicího bodu - kontaktujte nás, rádi Vám poradíme.

Schéma nedestruktivního XRF měření galvanických vrstev na podkladovém materiálu
Princip analýzy povlaků metodou rentgenové fluorescence – schematické znázornění.
Rozdíl mezi rozměry měřicí komory Bowman L Series a pojezdem programovatelného XY stolku
Větší prostor komory umožňuje i velký posuv XY.
Rozměry bez nejasností

Komora 559 × 610 × 254 mm a XY pojezd 254 × 254 mm

U velkých výrobků je klíčové rozlišovat prostor pro vložení dílu a oblast, do které může přístroj automaticky najet při měření. Bowman L Series nabízí obojí:

  • uzavřená komora se stolkem: 559 × 610 × 254 mm (Š × H × V),
  • standardní pojezd programovatelného XY stolku: 254 × 254 mm,
  • maximální vnitřní výška až 330 mm po vyjmutí stolku.

Pošlete nám fotografii a rozměry dílu včetně požadovaných měřicích pozic. Prověříme dostupnost bodů, upnutí, optimální kolimátor i potřebné zaostření.

Technické informace

Technické parametry Bowman L Series XRF

MetodaED-XRF – energiově disperzní rentgenfluorescenční spektrometrie - slangově často nazýván X-ray pro tloušťky
Prvkový rozsahHliník (Al, Z = 13) až uran (U, Z = 92)
RTG buzení50 W (50 kV a 1 mA), mikrofokusová rentgenka; typ anody dle konfigurace
DetektorSDD – křemíkový driftový detektor s rozlišením 140 eV nebo lepším
Měřené vrstvy5 vrstev celkem (4 povlakové vrstvy + podklad); analýza složení až 30 prvků současně
Filtry a kolimátory4 primární filtry, 4 motorizované kolimátory; standardně dle výrobce 0,1 / 0,2 / 0,3 / 0,6 mm, další velikosti na dotaz
ZaostřeníVíce pracovních vzdáleností, laser; proměnná měřicí geometrie pro obtížně přístupné pozice
Digitální analyzátor4096 kanálů, korekce mrtvé doby a escape píků
Kamera1/4" CMOS, 1280 × 720; zvětšení 30× mikro a 7× digitální zoom; volitelný Table View
XY stolekStandardní pracovní plocha a pojezd 254 × 254 mm, programovatelný
Vnitřní rozměryŠ 559 × H 610 × V 254 mm s instalovaným stolkem; po vyjmutí stolku výška až 330 mm
Vnější rozměryŠ 711 × H 762 × V 762 mm
HmotnostPřibližně 110 kg
Napájení150 W, 100–240 V, 47–63 Hz
Pracovní podmínky10–40 °C, relativní vlhkost až 98 % bez kondenzace
Software a PCŘízení, vyhodnocení a reporting XRF měření; PC dle aktuální nabídky výrobce
Normy a aplikaceASTM B568, ISO 3497, metody kontroly podle IPC-4552 / 4553 / 4554 / 4556; volitelné RoHS aplikace

Parametry vycházejí z aktuální produktové stránky výrobce; konfigurace, software a příslušenství se mohou změnit. Zvláštní požadavky potvrzujeme v technické nabídce.

Výběr technologie

Profesionální XRF měření tloušťky galvanických povlaků – Bowman L Series

Bowman L Series představuje řešení pro nedestruktivní měření tloušťky kovových povlaků a analýzu vícevrstvých systémů. Při výběru XRF spektrometru jsou rozhodující zejména požadovaná přesnost a opakovatelnost, velikost měřených dílů, dostupnost měřicích bodů, možnosti automatizace a kvalita softwarového vybavení. Díky flexibilní konfiguraci, SDD detektoru a motorizovanému měřicímu stolku je Bowman L Series vhodný pro průmyslovou kontrolu pokovení, galvanovny, výrobce elektroniky a laboratoře kontroly kvality.

Bowman L Series

Velká uzavřená komora, standardní SDD, multikolimátor a programovatelný XY stolek. Vhodné řešení pro větší součásti a přípravky s více měřicími místy.

Velký X-RAY

Široká nabídka XRF systémů pro povlaky i mikroanalýzu. Při srovnání je třeba určit konkrétní model, typ detektoru, pracovní geometrii a rozměry vzorků.

Další možnosti

Řady zaměřené na kontrolu povlaků v průmyslu a elektronice. Podle provedení se liší velikost vzorku, optika, automatizace i zaměření na malé struktury.

Co porovnat před nákupem XRF spektrometru?

  1. Skutečnou měřitelnost: materiál a pořadí vrstev, cílové tloušťky, NiP/ZnNi, kalibrace a nejistoty.
  2. Geometrii vzorku: vnitřní komoru, přístup k bodům, pojezd XY, vzdálenost rentgenky a velikost kolimátoru.
  3. Automatizaci a software: program měřicích pozic, reporty, export a práce obsluhy.
  4. Celkové náklady: servis, kalibrační standardy, školení a možnosti modernizace.
Měření, kalibrace a reporty

Opakovatelné XRF měření – od nastavení metody po protokol

Výhodou motorického XY stolku je možnost připravit opakované měřicí úlohy pro více vzorků nebo více bodů na stejném výrobku. Obsluha zvolí měřicí metodu pro daný systém vrstev a software navede přístroj na definovaná místa.

Při zavedení měření se stanovuje vhodný kolimátor, měřicí čas, kalibrační standardy a způsob vyhodnocení. U vícevrstvých povlaků a slitin je důležitá především aplikace ověřená na skutečném vzorku.

Výsledky lze použít pro vstupní a výstupní kontrolu, laboratorní protokoly a sledování kvality pokovení. Pro opakovanou kontrolu sériových dílů lze připravit měřicí program s předem definovanými pozicemi. Obsluha následně používá stejný postup pro jednotlivé výrobní dávky. Výsledky měření lze archivovat, porovnávat a zpracovávat do kontrolních protokolů. Rozsah exportu, automatizace a uživatelských reportů se upřesňuje při nabídce aktuálního softwarového vybavení.

Máte starší XRF přístroj a řešíte náhradu? Připravíme srovnání podle vašich měřicích úloh, nikoli pouze podle prospektových parametrů.

Odpovědi na dotazy

FAQ: Bowman L Series a měření tloušťky galvanických vrstev

Co měří Bowman L Series?

Bowman L Series je energiově disperzní XRF spektrometr pro nedestruktivní měření tloušťky kovových a galvanických povlaků a analýzu prvkového složení. Vhodný je zejména pro větší díly, přípravky s více vzorky a opakované měření více bodů.

Jak velký vzorek se do L-Series vejde?

S instalovaným stolkem má uzavřená komora přibližně 559 × 610 × 254 mm (šířka × hloubka × výška). Po vyjmutí stolku může maximální vnitřní výška dosáhnout 330 mm. Je nutné ověřit tvar a polohování konkrétního dílu.

Znamená velká komora také pojezd XY 559 × 610 mm?

Ne. Rozměr komory a pojezd stolku jsou dvě různé hodnoty. Standardní programovatelný XY stolek má pracovní rozměr a pojezd 254 × 254 mm. Pro větší díly je potřeba posoudit dostupnost konkrétních měřicích bodů.

Lze automaticky měřit více bodů na jednom dílu?

Ano. Programovatelný XYZ stolek umožňuje sestavit opakovatelný měřicí postup pro více pozic, například na galvanicky pokoveném dílu nebo přípravku s více součástmi. Podobu postupu určuje zvolená aplikace a software.

Je L-Series vhodná pro měření NiP a obsahu fosforu?

Vhodnost pro konkrétní kombinaci Ni-P, základního materiálu a tloušťky je nutné ověřit na vzorcích. Standardní SDD detektor umožňuje analyzovat i prvky důležité pro bezproudé niklování, avšak dosažitelná nejistota a meze stanovení závisejí na konkrétní aplikaci.

Jaké galvanické povlaky lze na Bowman L Series kontrolovat?

Mezi typické úlohy patří Zn/Fe, ZnNi/Fe, Ni/Fe, Cu/Ni/Cr, Cr/Ni/Cu/ABS, Au/Ni, Sn/Cu a další jedno- či vícevrstvé soustavy. Měřitelnost konkrétní kombinace je třeba posoudit podle tloušťky, substrátu a kalibrace.

Splňuje Bowman L Series ASTM B568, ISO 3497 a normy IPC?

Výrobce uvádí použití podle ASTM B568 a ISO 3497 a podporu aplikací pro IPC-4552, IPC-4553, IPC-4554 a IPC-4556. Samotný přístroj automaticky nezaručuje shodu každého naměřeného výrobku; rozhoduje správně nastavená metoda, standardy a vyhodnocení.

Je Bowman L Series vhodný při výběru nebo modernizaci XRF zařízení?

Ano, Bowman L Series představuje moderní řešení pro nedestruktivní měření tloušťky galvanických povlaků a analýzu vícevrstvých systémů. Je vhodný jak pro pořízení nového XRF spektrometru, tak pro modernizaci nebo náhradu stávajícího měřicího zařízení. Při výběru optimální konfigurace je důležité zohlednit rozměry a materiál vzorků, typ měřených povlaků, požadovanou přesnost a opakovatelnost, možnosti automatizace i dostupnost technické podpory a servisu.

Jaký je rozdíl mezi Bowman P Series a L Series?

Bowman L Series má proti P Series podstatně větší uzavřenou komoru a standardní XY pojezd 254 × 254 mm. P Series je vhodná pro menší díly; pro rozměrné součásti, přípravky a více měřicích pozic bývá výhodnější L Series. Rozhoduje skutečná geometrie vzorků.

Jaký je rozdíl mezi Bowman K Series a L Series?

K Series nabízí jinou konstrukci měřicí komory a větší standardní XY pojezd, zatímco L Series se zaměřuje na velký vnitřní objem pro rozměrnější součásti. Při výběru porovnejte nejen rozměry komory, ale také přístup k dílu a rozsah skutečně měřitelných bodů - rádi Vám poradíme.

Lze přístroj využít také pro RoHS?

Výrobce nabízí pro řadu L volitelné řešení pro aplikace RoHS. Rozsah prvků, detekční limity a vhodnost konkrétní metodiky je potřeba ověřit pro požadovaný typ kontroly.

Lze si nechat změřit vlastní vzorky?

Ano, pro posouzení vhodnosti doporučujeme zaslat požadovanou skladbu vrstev, materiál podkladu, rozměry dílu, cílové tloušťky, počet měřicích míst a požadovanou přesnost. Na základě toho lze navrhnout konfiguraci i praktické ověření.

Potřebujete cenu Bowman L Series nebo ověřit měření vašich vzorků?

Stačí poslat popis povlaků, rozměry dílů a požadovanou přesnost. Navrhneme vhodnou konfiguraci a způsob praktického ověření.

Telefon: +420 541 126 090   |   Odeslat poptávku

Máte zájem? Najdeme nejvýhodnější řešení přímo pro vás
Zjistit cenu
Vytištěno ze stránky https://www.bas.cz/mereni-tloustky-vrstev-a-galvanickych-povlaku/bowman/l-series/index.php